桂林安一量具有限公司（简称“安一公司”），是经国家认证的高新技术企业，建于2005年，注册资金1250万元，位于桂林市高新区（国家级），属国内外量具行业知名企业。
安一公司专业制造高档量具，产品不断创新，质量不断提升。主要产品高精度步距规和高精度数显卡尺，已是国内外知名产品。著名美国长岛仪器公司2012年在其网站上评价说：“中国终于有了高品质电子数显量具，桂林安一公司生产的电子数显卡尺，在每一个细节上都同欧洲和日本的一样好”；一位美国计量工程师赞扬安一公司的数显卡尺，他说 “我从事计量工作二十余年，从未见过这么高精度的卡尺，且价格只有别家的一半！”。德国马尔公司生产部长曾说过，在中国找来找去，就数安一公司卡尺做得好！2013年，某日资企业需用卡尺测量直径1mm的小孔，要求测量误差不超过0.02mm，曾用过瑞士、德国、日本等几家国际名牌卡尺，竟无一家满足要求。最后买了安一公司的卡尺，顺利解决了这一难题 (详见www.wanlida99.com)
安一公司技术负责人有近五十年量具制造经验，是我国量具行业知名专家。现受聘为国家量具标委会委员、桂林量具企业技术联盟副理事长、专家委员会主任。
公司有美国哈斯加工中心、1米激光刻线机和线切割机等精密数控机床32台和普通机床33台，有真空超硬镀膜设备一套、氮氢气�；ね酱慊鹇偷臀麓砩璞傅�，有自制生产能力。
计量检测设备齐全，有激光干涉仪、瑞士TESA测长机(500mm)、立式光学计、2”测角仪和比长仪多台、有配装德国海德汉6米超精密光栅尺的德国蔡司六米测长机和德国莱兹1米万能工具显微镜、俄国2米测长机和乌氏干涉仪多台、英国泰勒轮廓仪、三丰精密测高仪多台、国产珍宝量块测量仪、新天万工显、中原超精密电感测微仪等计量仪器，有成量产0.5至1000mm二等量块（每年送国家计量院检定），还有经中国计量科学研究院和德国DKD-K-44301校准的1000mm超高精度步距规等一系列长度标准器。
上述精密设备加上一批经过二十余年技术培训和经验积累的骨干员工，使公司具有较强的生产能力和质量保证能力。公司已通过ISO9001质量管理体系认证。
主要产品有：
1.步距规 是由若干量块组成的长度标准器，广泛用于检验和校准三坐标测量机、数控机床、测高仪和其它精密测量仪器。数控机床需定期检验定位精度，准确又经济的检验工具是步距规。过去完全依赖进口，现在安一公司已批量生产。经国家计量科学研究院和德国DKD检测中心多次检测校准，安一公司步距规精度与国外知名品牌相同（详见www.wanlida99.com）。上海特略公司数控机床使用步距规校准后，加工精度达±3μm。安一公司步距规保用5年。
2.卡尺专用步距规 用于检验卡尺类量具，完全符合加严质量要求的新规程JJG30—2012，更好地�；び没ㄒ�。新规程对卡尺的内测量和外测量示值误差的要求非常严格，不用此检具，难以发现不合格品。深圳富士康公司用此步距规检验所购本地产数显卡尺，每批退货数量不少，直到生产厂也用此步距规检验，才消除退货现象。
3.量块及量块修理——量块是高度精密长度标准器，保持量块精度对保证产品质量十分重要。硬质合金量块，耐磨性比钢量块高5倍以上，却与国内名牌钢量块售价相当。量块的修理难度很高，尤其大尺寸量块，大多数使用单位不能自行修理。安一公司开展量块修理服务，修研后标示出实际尺寸，收费约为购买新量块价格的三分之一。用废旧钢量块更换同规格新硬质合金量块，可按出厂价的7折优惠收费。
4.卡尺类量具 游标和数显卡尺，保用2年（同行保用1年）；硬质镀膜卡尺，保用3年；高精度数显卡尺，100mm内误差不超过±0.01mm，300mm内误差不超过±0.02mm，售价与国内同行相当。防水（还防油、防切削液）数显卡尺，可用于生产现场，一改过去数显卡尺易坏的毛病。
5.宽座直角尺 0级和00级寛座角尺，特别是较大尺寸（300mm以上）直角尺，0级和00级的目前国内几无厂家生产。安一公司已开始生产，采用新型结构，稳定性好，保用2年。
6.螺纹中径卡尺 此前，测量内外螺纹作用中径并给出具体数值的量具，国内无厂家生产。而进口的量具量仪价格昂贵，动辄几万元乃致上百万元。安一公司高精度螺纹中径卡尺（分辨力0.005mm），既能测量作用中径，又能测量单中径，且测量准确度与进口量仪几近相同，四川绵阳某大型企业作过比对，二者相差不超过0.01mm。
7.形位公差检具 带千分表的直线度检具和带千分表的垂直度检具，准确度很高，且使用方便，避免了过去用塞尺塞，或凭人眼观察判断的主观性和不一致性。
8.专用定制量具 生产专用定制量具是安一公司的特长，得到同行公认。如测量小孔直径、大轴直径、止口直径、V型密封槽直径、内外沟槽直径、孔内沟槽直径和沟槽宽度、三点外径、孔中心距、钢丝绳直径、管厚、板厚、窄缝、强磁工件、高温工件等专用量具。希望与您共同开发各种新型量具并改进现有量具，共同解决企业遇到的计量检测难题。
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